LHMX-6RTW Computergesteuertes Metallurgiemikroskop für Forschungszwecke

Kurzbeschreibung:

Übersicht über das aufrechte metallurgische Mikroskop LHMX-6RT:

Das LHMX-6RT ist ergonomisch gestaltet, um die Ermüdung des Bedieners zu minimieren. Dank seines modularen Aufbaus lassen sich Systemfunktionen flexibel kombinieren. Es umfasst verschiedene Beobachtungsfunktionen, darunter Hellfeld-, Dunkelfeld-, Schrägbeleuchtungs-, Polarisationslicht- und DIC-Differenzialinterferometrie, sodass die Funktionen je nach Anwendung ausgewählt werden können.


Produktdetails

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Das weitwinklige, klappbare trinokulare Beobachtungsrohr

Verfügt über ein aufrecht stehendes, klappbares trinokulares Beobachtungsrohr, bei dem die Bildorientierung der tatsächlichen Richtung des Objekts entspricht und die Richtung der Objektbewegung der Richtung der Bildebenenbewegung entspricht, was die Beobachtung und Bedienung erleichtert.

Die bewegliche Plattform mit langem Hub ist konstruiert

Mit einer 4-Zoll-Plattform, die sowohl für die Inspektion von Wafern oder FPDs entsprechender Größe als auch für die Array-Inspektion von kleinen Proben verwendet werden kann.

Der hochpräzise Objektivrevolver-Konverter

Verfügt über eine Präzisionslagerkonstruktion, die eine reibungslose und komfortable Rotation, hohe Wiederholgenauigkeit und hervorragende Kontrolle über die Konzentrizität der Objektive nach der Umrüstung ermöglicht.

Die sichere und robuste Rahmenkonstruktion, entworfen

Bei den Gehäusen von Inspektionsmikroskopen für den industriellen Einsatz sorgt der niedrige Schwerpunkt, die hohe Steifigkeit und der stabile Metallrahmen für Stoßfestigkeit und Bildstabilität des Systems.

Der frontseitig angebrachte, tief positionierte Koaxialfokussiermechanismus für Grob- und Feineinstellung sowie der integrierte 100–240-V-Weitspannungstransformator ermöglichen die Anpassung an unterschiedliche regionale Netzspannungen. Das Gehäuse verfügt über ein internes Luftzirkulationssystem, das eine Überhitzung des Rahmens auch bei längerem Gebrauch verhindert.

Konfigurationstabelle des aufrechten metallurgischen Mikroskops LHMX-6RT:

StandardKonfiguration Modellnummer
PKunst Spezifikation LHMX-6RT
Optisches System Unendlichkorrigiertes optisches System ·
Beobachtungsrohr 30° Neigung, invertiertes Bild, unendlich weit schwenkbares Dreiwege-Beobachtungsrohr, Einstellung des Pupillenabstands: 50–76 mm, dreistufiges Strahlteilungsverhältnis: 0:100; 20:80; 100:00 ·
Okular Hoher Augenabstand, weites Sehfeld, Planokular PL10X/22 mm ·
Objektiv Unendlichkeitskorrigiertes Fernlichtund DunkelfeldObjektiv: LMPL5X /0.15BD DIC WD9.0 ·
Unendlichkorrigiertes Fernlicht unddunkles FeldObjektiv: LMPL10X/0.30BD DIC WD9.0 ·
Unendlichkeitskorrigierte FerndistanzHell-Dunkel-FeldObjektiv: LMPL20X/0.45BD DIC WD3.4 ·
Unendlichkeitskorrigiertsemiapochromatisches ObjektivObjektiv: LMPLFL50X/0.55 BD WD7.5 ·
Konverter Interner Fünfloch-Hell-/Dunkelfeldwandler mit DIC-Steckplatz ·
Fokussierrahmen Durchlicht- und Reflektorrahmen, frontseitig montierter, niedrig positionierter, koaxialer Grob- und Feinfokussiermechanismus. Grobverstellweg 33 mm, Feinverstellgenauigkeit 0,001 mm. Ausgestattet mit einer rutschfesten Einstellvorrichtung und einer zufälligen oberen Anschlagsperre. Integriertes Weitbereichsspannungssystem (100–240 V), 12-V-100-W-Halogenlampe, Durchlichtbeleuchtung, separat steuerbare Ober- und Unterbeleuchtung. ·
Plattform Mechanische, fahrbare Plattform mit 4 Zoll Durchmesser und zwei Ebenen, Plattformfläche 230 x 215 mm, Verfahrweg 105 x 105 mm, mit Glasplattform, rechtsseitigen Handrädern für die X- und Y-Bewegung sowie Plattformschnittstelle. ·
Beleuchtungssystem Auflichtstrahler mit einstellbarer Blende, Feldblende und zentraler, einstellbarer Blende; inklusive Umschalter für helle und dunkle Feldbeleuchtung; sowie mit einem Steckplatz für einen Farbfilter und einem Steckplatz für einen Polarisationsfilter. ·
Polarisierende Accessoires Polarisator-Einsatzplatte, feste Analysator-Einsatzplatte, um 360° drehbare Analysator-Einsatzplatte. ·
Software zur metallografischen Analyse FMIA 2023 metallographisches Analysesystem, 12-Megapixel-Sony-Chip-Kamera mit USB 3.0, 0,5X-Adapterobjektivschnittstelle und hochpräzisem Mikrometer. ·
Optionale Konfiguration
Teil Spezifikation  
Beobachtungsrohr 30° Neigung, aufrechtes Bild, unendlich weit schwenkbares T-förmiges Beobachtungsrohr, Einstellung des Pupillenabstands: 50-76 mm, Strahlteilungsverhältnis 100:0 oder 0:100 O
Neigungseinstellung 5-35°, aufrechtes Bild, unendlich schwenkbares Dreiwege-Beobachtungsrohr, Einstellung des Pupillenabstands: 50-76 mm, einseitige Dioptrieneinstellung: ±5 Dioptrien, zweistufiges Strahlteilungsverhältnis 100:0 oder 0:100 (unterstützt ein Sichtfeld von 22/23/16 mm) O
Okular Hoher Augenabstand, weites Sehfeld, Planokular PL10X/23mm, einstellbare Dioptrien O
Hoher Augenabstand, weites Sehfeld, Planokular PL15X/16mm, einstellbare Dioptrien. O
Objektiv Unendlichkeitskorrigiertsemiapochromatisches ObjektivObjektiv: LMPLFL100X/0.80 BD WD2.1 O
Differenzielle Interferenz DIC-Differenzialinterferenzkomponente O
Kameragerät 20-Megapixel-Kamera mit Sony-Sensor, USB 3.0- und 1x-Adapterschnittstelle. O
Computer HP Business Machine O

Notiz: "· " steht für Standardkonfiguration; "O " kennzeichnet eine Optional item.


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